先进的NAND工艺改进
改进工艺以延长NAND的耐久性，上图所示的是不同周期和不同工艺的数据耐久性测试。
先进的NAND的可靠性分级
在晶元和封装阶段，进行可靠性和耐久性基础分级，上图所示的是基于晶圆级别的分级。
内置先进的NAND优化程序
高耐久性技术(HET)将有更严格的分布程序，可大幅提高数据的持续保存能力，并确保性能和耐久性之间的平衡。
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