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嵌入式存储安全设计与固态硬盘

减少计划外宕机

硬盘的自动检测报告技术(SMART),遵循由ANSI标准发布的ATA-3规范。SMART技术,主要是设计用来给主机系统发送信号,来即时重置发生机械错误的硬盘驱动器。

而固态硬盘,由于没有移动部件,许多SMART功能检测就没有必要了。固态硬盘不会发生机械错误,比起传统硬盘有着较高的可靠性。但即便如此,固态硬盘还依旧可能发生错误,例如超过了工作负荷。

假如我们有一块充电电池,我们在数百次充电放电之后,其中能容纳的电量将大幅减小,其实固态硬盘也是如此。在多次使用之后,其保存数据的能力将削弱,当硬盘的某个区域失去了保存数据的能力,数据还可以根据算法来在硬盘其他区域来完成存储,可如果其他区域也都失效了,这个固态硬盘就寿终正寝了。

固态硬盘版的SMART,必须能够监控写入/擦除次数,以便用户能够根据寿命指标来适时更换硬盘。大多数系统设计者,都有一个反馈方法来生成有意义的数据,像SiliconSystem公司的SiSMART技术,就可以实时反馈硬盘的使用率,在硬盘寿命终结之前给出提示。
 

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